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    美國麥克儀器公司

    全自動比表面積及孔隙度分析儀TriStar II 3020
    全自動比表面積及孔隙度分析儀TriStar II 3020
        TriStar II 3020為全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀,性價比高。它在保證數據精度和強大的數據處理能力同時,大大加快了分析速度,可滿足大多數研究需求。TriStar II也同時提供氪氣選配,可進行低比表面測量。該儀器還提供多種分析方法和數據處理,用戶可根據需要選擇不同的計算數據。
    體積小/眾多特點
    ? 三個分析站同時運行,但又相互獨立。 三站BET比表面積的測量可以在20分鐘內完成。對于更多的樣品測試,四臺TriStar可共用一臺計算機控制。
    ? 氮氣測試比表面積最低可達0.01m2/g。TriStar II也可使用于氬氣、二氧化碳和非腐蝕性氣體如丁烷、甲烷或其他輕烴類。
    ? 標配的P0管可連續測量飽和壓力。飽和壓力可選擇輸入、連續測量或在樣品管中測量等方式獲得。
    ? 最大進氣增量功能和定進氣量功能,可在縮短分析時間的同時,避免“錯過”重要數據點。
    ? 自由空間可選擇測量、計算或手動輸入等方式,靈活性大,滿足不同樣品的不同需求。
    低比表面積氪氣選配
    ? 氪氣選配可測量低至0.001m2/g的比表面積。

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